手動(dòng)或自動(dòng)操作的雙向可控硅測(cè)試儀

　　雙向可控硅是雙向交流開(kāi)關(guān)，可以在最高600V電壓下控制高達(dá)25A rms電流的負(fù)載。它們用于電機(jī)速度、加熱器和白熾燈的控制。邏輯型雙向可控硅對(duì)微控制器驅(qū)動(dòng)器件尤有吸引力。微控制器輸出端口可以直接驅(qū)動(dòng)一只雙向可控硅，因?yàn)榭煽毓璧挠|發(fā)電流只有3~10mA。與所有電子器件一樣，雙向可控硅也存在一些內(nèi)部問(wèn)題，在將其用于某個(gè)設(shè)計(jì)以前可以檢測(cè)這些問(wèn)題。

圖1，雙向可控硅測(cè)試儀用一只開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)換測(cè)試信號(hào)的極性。

　　圖1是一個(gè)簡(jiǎn)單而成本低廉的測(cè)試設(shè)備，它可測(cè)試Littelfuse公司的L2004F31、L2004F61、L2004L1和L4004V6TP雙向可控硅，也可以用于測(cè)試任何其它的引線式雙向可控硅，因?yàn)樗袠?biāo)準(zhǔn)封裝（包括TO-220AB、TO-202AB、TO-251和Ipak）都有相同的管腳布局。用一個(gè)IC插座可以便于插入待測(cè)雙向可控硅。這種方法也適用于SMD（表面貼裝器件），前提是能找到或創(chuàng)建一個(gè)合適的測(cè)試插槽。極性開(kāi)關(guān)S1是一只DPDT（雙刀雙擲）器件，用于檢查雙向的導(dǎo)通性。切換開(kāi)關(guān)S2是瞬時(shí)SPST（單刀單擲）按鍵器件，通過(guò)電阻R2連接?xùn)艠O（Pin 3）與MT2（Pin 2），以觸發(fā)待測(cè)的雙向可控硅（圖1）。

表1，雙向可控硅的測(cè)試

　　測(cè)試過(guò)程只花不到5s，包含4個(gè)步驟（表1）。LED向測(cè)試操作者顯示每個(gè)步驟的結(jié)果。如果所有四步測(cè)試均獲通過(guò)，則雙向可控硅合格。在制造期間要再做一次雙向可控硅測(cè)試，以保證裝配板沒(méi)有問(wèn)題，雙向可控硅工作正常。這一測(cè)試可節(jié)約時(shí)間與人工，避免整件產(chǎn)品裝配完后才發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。做此測(cè)試時(shí)雙向可控硅已焊在電路板上。使用的電源電壓為標(biāo)稱120/220V AC。測(cè)試應(yīng)對(duì)DUT有最小影響，并使用最少的時(shí)間與工作量。測(cè)試中用雙向可控硅測(cè)試儀代替一個(gè)負(fù)載。從測(cè)試儀到DUT的連接可以有變化，而且要確保在連接120/220V AC時(shí)采取一些安全措施。