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基于器件特性進(jìn)行精確的高亮度LED測(cè)試

作者: 時(shí)間:2012-08-02 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  最新一代的智能儀器,包括吉時(shí)利公司的大功率2651A系統(tǒng)信號(hào)源/測(cè)量儀(SourceMeter),由于可以最大限度減少通信的流量,從而可以大幅度提升測(cè)試吞吐率。測(cè)試程序的主體嵌入到儀器中的一個(gè)Test Script處理器(TSP)中,該處理器是一個(gè)用于控制測(cè)試步驟的測(cè)試程序引擎,內(nèi)置通過/不通過標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)算和數(shù)字I/O的控制。一個(gè)TSP可以將用戶定義的測(cè)試程序存放到存儲(chǔ)器中,并根據(jù)用戶需要來執(zhí)行該程序,從而減少了測(cè)試程序中每個(gè)步驟的建立和配置時(shí)間。

  單器件的試系統(tǒng)

  元器件操控器將單個(gè)HBLED(或者一組HBLED)運(yùn)送到一個(gè)測(cè)試夾具上,夾具可以屏蔽環(huán)境光,且內(nèi)帶一個(gè)用于光測(cè)量的光電探測(cè)器(PD)。需要使用兩個(gè)SMU:SMU#1向HBLED提供測(cè)試信號(hào),并測(cè)量其電響應(yīng);SMU#2則在光學(xué)測(cè)量過程中檢測(cè)光電探測(cè)器(圖2)。

  測(cè)試程序可以被編程設(shè)定為,在一根來自于元器件操控器的數(shù)字信號(hào)線[作為“測(cè)試啟動(dòng)”(SOT)]控制下啟動(dòng)。當(dāng)儀器探測(cè)到該信號(hào)時(shí),測(cè)試程序啟動(dòng)。一旦執(zhí)行完畢,則讓元器件操縱器的一條數(shù)字信號(hào)線發(fā)出“測(cè)試完畢”的標(biāo)志。此外,儀器的內(nèi)建智能可以執(zhí)行所有的通過/不通過操縱并通過儀器的數(shù)字I/O端口發(fā)送數(shù)字指令至元器件操縱器,以便讓HBLED能根據(jù)通過/不通過標(biāo)準(zhǔn)來對(duì)HBLED進(jìn)行分類。于是可以通過編程讓兩個(gè)動(dòng)作同時(shí)執(zhí)行:數(shù)據(jù)傳送至PC進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理,而同時(shí)一個(gè)新的DUT運(yùn)送到測(cè)試夾具上。

  多個(gè)HBLED器件的測(cè)試

  老煉(burn-in)等應(yīng)用需要對(duì)多個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。

  如何減少HB試誤差的自加熱是HBLED生產(chǎn)測(cè)試中最主要的誤差源之一。隨著結(jié)溫不斷升高、電壓降,或者更重要的是漏電流也隨之上升,因此如何最大限度縮短測(cè)試時(shí)間就極為重要。智能測(cè)試儀器可以簡化對(duì)器件的配置,并縮短其上升時(shí)間(該時(shí)間是指測(cè)試開始前任何電路電容實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的時(shí)間)以及積分時(shí)間(該量決定了A/D轉(zhuǎn)換器采集輸入信號(hào)的時(shí)間長短)。新型的SMU儀器,例如吉時(shí)利2651A,具有A/D轉(zhuǎn)換器,這些器件的采樣速度比高性能的積分式A/D轉(zhuǎn)換器快50倍。于是,更快的測(cè)量速度可以進(jìn)一步縮短總的測(cè)試時(shí)間。圖3顯示了對(duì)三個(gè)HBLED器件進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)。

  脈沖測(cè)量技術(shù)的使用可以最大限度縮短測(cè)試時(shí)間和結(jié)的自加熱現(xiàn)象。當(dāng)前具備高脈沖寬度分辨率的SMU可以精確地控制對(duì)器件施加功率的時(shí)間長短。脈沖化的工作也可以讓這些儀器的輸出電流遠(yuǎn)超出其DC輸出能力。


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