詳解NFC規(guī)范與測試

2.FieldGeneratingAntenna：kit用于磁場的發(fā)射，圖中還包含了一組天線匹配線路。

　　3.Sensecoil：sensecoil用于量測待測物的磁場強度與調(diào)變。

　　4.Referencedevice：referencedevice用于測試DUT的標準件。

　　RF測試程序

　　1.發(fā)起設(shè)備Power測試：

　　此測項在測試由發(fā)起設(shè)備所供給的磁場強度是否供給目標物足夠的工作電源。

　　將信號由generatingantenna調(diào)整發(fā)射，于右端的calibrationcoil量測到的強度為Hmax(7.5A/m)，此時再將referencedevice配合power測試線路調(diào)整C2使線路共振點位于19MHz(此部份在規(guī)范中并無詳述為何調(diào)整至19MHz，在此推論若19MHz可達到3V輸出則當目標物為13.56MHz時其電壓一定會超高3V，此因該為取其下限值)，放置于DUT位置，調(diào)整線路R2使的由C3所得到之電壓值為3V。此時Referencedevice已經(jīng)完成，之后再將此卡用來量測發(fā)起設(shè)備，將此卡放至于發(fā)起設(shè)備所標注之超作范圍，在此超作范圍內(nèi)任意位置所量測到的電壓值(C3)皆不可超過3V。至于Hmin測試則與max大致相同，不同處為將referencedevice共振頻率調(diào)至13.56MHz及所量測知電壓值皆須超過3V。

　　2.目標物的loadmodulation測試：

　　(1)被動模式

　　●106kbps：此測試為驗證目標物可正確調(diào)變出波形，先將calibrationcoil放置于下側(cè)外緣，確定generatingantenna所發(fā)射之波形與強度正確無誤，此時再將待測目標物放置于上側(cè)外緣，編輯一個ECMA340所定義之SENS_REQ波型由generatingantenna發(fā)射并在待測目標物會回送一個SENS_RES信號，如此即可透過二個sensecoil量測到信號，此量測架構(gòu)因考量回傳之負載調(diào)變信號微弱，所以利用兩個sensecoil之間電壓差做計算，由于兼容系問題，所以在106kbps延續(xù)MiFARE使用副載波(subcarrier)的調(diào)變作被動目標物的回傳信號，所以量測點應于fc+fs與fc-fs(fc=13.56MHz，fs=fc/16)。

　　●212/424kbps：高速的調(diào)變信號量測方式則與106kbps十分相似，只是將量測擷取位置改為fc，因為此兩種傳輸速度下并無使用副載波調(diào)變

　　(2)主動模式

　　主動模式的測試與被動模式上并無太大的差異，由于是主動模式所以加測了目標物的RFfield發(fā)射的時間，指令下達的時間……等。

　　3.發(fā)起設(shè)備的loadmodulation測試：此測試在于驗證發(fā)起設(shè)備的調(diào)變機制，可分為主動模式發(fā)射與被動模式接收兩種。

　　(1)主動模式發(fā)射：將calibrationcoil放置于發(fā)起設(shè)備所定義的任意位置，而所量測的波型皆需符合ECMA340所定的規(guī)范。

　　(2)被動模式接收：此為測試發(fā)起設(shè)備可以正確的接收被動目標物所回傳的信號。利用圖7-2的loadmodulation測試線路所做成的referencedevice，先將對應C3電壓與距離的關(guān)系以圖8的架構(gòu)校正好，之后即可將此卡與發(fā)起設(shè)備的待測物做量測，測試由referencedevice所發(fā)出的調(diào)變信號于待測物端的接收情況。在此只能對部分的測試項目做討論而詳細的測試請參考ECMA。

　　NFC系統(tǒng)與芯片開發(fā)

　　目前市場上所能見到的NFC最為積極推動的包括了Philips、NOKIA、Sony與Samsung，而這幾家廠商皆有產(chǎn)品于市場上，包括PhilipsPN511/PN531、NOKIA3220，RFMD也預計于RF4100與RF4113兩個具有NFC功能的單芯片，RF4100為藍牙與NFC整合的系統(tǒng)芯片，具有高整合度的手機應用界面，而RF4113則為NFC系統(tǒng)芯片。RF4100尺寸為5mm×5mm的BGA與3.7mm×3.7mmWLCSP。預期NFC將會為手機應用層面帶入一個新紀元。