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基于比時法的晶振頻率測量建模與分析

作者: 時間:2010-11-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  3.2 晶振頻率誤差數(shù)據(jù)方差分析及顯著性檢驗(yàn)

  測量值y1,y2,…,yN之間的差異(稱為變差)是由兩方面的原因引起的。一是自變量取值的不同,二是其他因素(包括試驗(yàn)誤差、隨機(jī)誤差等)的影響。為了對回歸方程進(jìn)行檢驗(yàn),把兩者所引起的變差從y的總變差中分解出來。根據(jù)上述數(shù)據(jù)可得:

  式中:U稱為回歸平方和,它反映了在y的總變差中由于x和y的線性關(guān)系而引起的y變化的部分;Q稱為殘余平方和,即所有測量點(diǎn)距回歸直線的殘余誤差平方和。

  若總的平方和由N項(xiàng)組成,其自由度就為N-1,總的離差平方和的自由度可分為回歸平方和的自由度υU和殘余平方和的自由度υQ之和,即:

  在一元線性回歸中,υU=1,υS=N-1,則Q的自由度υQ=N-2。由回歸平方和與殘余平方和的意義可知,一個回歸方程是否顯著,也就是y與x的線性關(guān)系是否密切,取決于U及Q的大小,U愈大Q愈小,說明y與x的線性關(guān)系愈密切。通??梢圆捎肍檢驗(yàn)法來對方程進(jìn)行顯著性檢驗(yàn)。對于一元線性回歸,將U及Q的值代入上式得到統(tǒng)計(jì)量F:

  由F分布表可以查出,F(xiàn)≥F0.01(1,28)=7.64??烧J(rèn)為回歸是高度顯著的。

  殘余平方和Q除以它的自由度υQ所得商:

  稱為殘余方差,它可以看作排除了x對y的線性影響后,衡量y隨機(jī)波動大小的一個估計(jì)量。殘余方差的平方根:

  稱為殘余標(biāo)準(zhǔn)差,它可用來衡量所有隨機(jī)因素對y一次性測量平均變差的大小,σ愈小,則回歸直線的精度愈高。

  把平方和及自由度進(jìn)行分解的方差分析數(shù)據(jù)結(jié)果歸納在一個表格中,如表3所示。

  從表3可以看出,在30 s時間內(nèi),晶振實(shí)際頻率與其標(biāo)稱頻率的相對偏差引起的誤差平方和為1.377 18×105μs2,其他各種隨機(jī)因素引起的誤差的平方和為1.996μs2。晶振相對頻偏引起的誤差遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于其他因素引起的誤差,表明了晶振頻率誤差貢獻(xiàn)主要來源于實(shí)際頻率與標(biāo)稱頻率之間的頻偏。通過頻率修正即可得到一種高穩(wěn)定度的頻標(biāo)源。

  4 結(jié)語

  以上分析結(jié)果表明,該晶振頻率誤差主要來源于實(shí)際頻率與標(biāo)稱頻率的相對偏差,隨機(jī)誤差對晶振整體誤差的貢獻(xiàn)很小。通過對晶振標(biāo)稱頻率值進(jìn)行在線補(bǔ)償可以消除其相對頻偏,從而獲得一種具有較高穩(wěn)定度的頻率源,可為需要時間顯示的場所提供高精度的時間服務(wù)。


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