平板端射天線陣饋電特性的研究
表1025單元中心列各單元受互耦影響特性變化趨勢(shì)的仿真結(jié)果與實(shí)測(cè)結(jié)果對(duì)比表
軟件仿真 | 實(shí)驗(yàn)測(cè)試 | |
S11幅度(dB) | 0.9981.02511.0941.031 | 1.0360.90910.9271.036 |
S11相位(度) | 1.0071.01511.0061.015 | 1.0761.10910.9571.118 |
駐波比 | 1.0020.97610.9190.972 | 0.9691.12511.0931 |
輸入電阻(歐) | 0.9890.99511.0420.998 | 0.9280.82711.0230.880 |
輸入電抗(歐) | 0.9930.98610.9550.981 | 0.9380.98611.0780.916 |
經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和分析對(duì)比,可以看到,饋電特性的各項(xiàng)指標(biāo),仿真的結(jié)果變化趨勢(shì)和實(shí)驗(yàn)所測(cè)的變化趨勢(shì)基本一致,但是由于實(shí)際測(cè)試的陣列與仿真設(shè)計(jì)的陣列結(jié)構(gòu)有一定的差別,在某些拐點(diǎn)處的偏差還比較大,但通過(guò)對(duì)比還是較好地驗(yàn)證了仿真分析的準(zhǔn)確性,說(shuō)明了利用軟件模擬組陣模型分析互耦影響具有可靠性。
5結(jié)論
針對(duì)相控陣平板端射天線,本文主要做了有關(guān)天線單元耦合情況分析的研究,采用了計(jì)算仿真與實(shí)驗(yàn)測(cè)試相結(jié)合的方式,在軸向排列,橫向排列,周邊排列三種不同角度上逐次分析陣中單元的輻射特性變化以及耦合影響的原因,通過(guò)實(shí)際測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,驗(yàn)證了計(jì)算仿真結(jié)果的正確性,同時(shí)也發(fā)現(xiàn)了一些不如預(yù)期的問(wèn)題。本文還發(fā)現(xiàn)了單元處于陣中和處于自由空間條件差異時(shí),s11相位和輸入阻抗變化的趨勢(shì)和規(guī)律,為今后做移相器的改進(jìn)和添加匹配網(wǎng)絡(luò)提供了實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。
評(píng)論