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泰克加快了基于PCI Express的GeForce6系列圖像解決方案的開發(fā)周期

作者: 時間:2004-10-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  測試、測量和監(jiān)測儀器廠商公司日前宣布,可視處理解決方案廠商N(yùn)VIDIA公司通過采用自動化測試套件,成功地加快了基于PCI Express 的GeForce 6系列圖像解決方案的開發(fā)周期。測試套件由支持TLA700邏輯分析儀的泰克TMS817 PCI Express套件、TDS6000系列數(shù)字存儲示波器、P7380系列探頭和RT-Eye™測試軟件組成。這一組合為NVIDIA提供了一系列完善的功能,降低了檢驗(yàn)和一致性測試的時間,提高了對測試結(jié)果的信心。

  PCI-Express是一種第三代總線輸入/輸出結(jié)構(gòu),對數(shù)據(jù)密集型應(yīng)用如圖形,它支持的吞吐量要快得多。但是,這種新結(jié)構(gòu)也帶來了互操作能力和一致性測試問題,為在設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)PCI-Express,設(shè)計(jì)人員必須解決這些問題。例如,PCI Express是一種多通路串行總線,每條通路能夠支持2.5Gb/s的速率及直到50ps的邊沿速率。在這些速度下,信號要求最低6GHz的采集帶寬及20GS/s的取樣速率。除采集外,PCI Express規(guī)范還具有獨(dú)特的信號完整性測試要求,如捕獲3500個連續(xù)位,使用‘3500:250時鐘恢復(fù)方法’在軟件中恢復(fù)時鐘,把模板測試中的轉(zhuǎn)換位與非轉(zhuǎn)換位分開。

  “PCI Express等高速串行總線給下一代產(chǎn)品開發(fā)帶來了新的信號完整性挑戰(zhàn),”NVIDIA公司技術(shù)市場總監(jiān)Barry Wagner說,“泰克的邏輯分析儀解決方案TMS817 PCI-Express支持套件為我們的工程師提供了寶貴的工具。多年來,我們一直與泰克密切合作,我們對泰克及時支持x16市場、影響第一代PCI Express產(chǎn)品開發(fā)進(jìn)程表示贊賞。這種邏輯分析支持與RT-Eye測試軟件相結(jié)合,已經(jīng)幫助NVIDIA成為第一個進(jìn)入PCI Express PCI-SIG集成商名單的公司。”

  “NVIDIA能夠利用我們的PCI-Express測試功能實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品開發(fā)周期優(yōu)勢,我們感到非常榮幸,”泰克公司高性能示波器副總裁Colin Shepard說,“泰克提供了一套完善的、集成式、自動化工具,包括示波器、邏輯分析儀、信號源、探頭和軟件,允許工程師迅速高效地解決模擬檢驗(yàn)和一致性測試問題,進(jìn)而能夠有效地實(shí)現(xiàn)PCI-Express設(shè)計(jì)?!?/P>

  由于PCI Express復(fù)雜的多通路結(jié)構(gòu),自動化對高效測試至關(guān)重要。例如,每張基于NVIDIA GeForce 6系列的顯卡都有16條通路需要測試。測試流程中內(nèi)置了RT-Eye串行數(shù)據(jù)一致性測試和分析軟件,它為最新PCI Express規(guī)范中專門列明的幅度、定時和抖動測量提供了單鍵合格/不合格測試功能。在信號測試不合格時,可以使用抖動趨勢、直方圖、頻譜等分析工具,從關(guān)鍵角度查看信號特點(diǎn),確定設(shè)計(jì)中的具體問題。

  在PCI Express從設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)室投入生產(chǎn)時,自動化一致性測試工具變得更加重要,如裝有RT-Eye軟件的TDS6000系列,它使得插件和PC廠商能夠迅速簡便地進(jìn)行要求的電接口一致性測試。

  一旦確定信號正確,必須使用邏輯分析儀檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性。在PCI Express中,數(shù)據(jù)在串行符號和分組中承載,而不是在并行字中承載。泰克TMS817可以用來解串、解擾、偏移校正、并把PCI Express數(shù)據(jù)流解碼成正確的事務(wù)處理,這樣客戶就可以使用TLA700,從系統(tǒng)級調(diào)試和檢驗(yàn)PCI Express。

  “泰克率先為邏輯分析儀提供了x16 PCI Express支持,”泰克公司邏輯分析儀總經(jīng)理David Bennett說,“泰克的多種工具和功能相結(jié)合,為滿足PCI Express提出的測試需求提供了獨(dú)特的解決方案。通過這些解決方案,NVIDIA這樣的領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)可以更加高效地測試自己的設(shè)計(jì),改善下一代產(chǎn)品的開發(fā)周期。”



關(guān)鍵詞: 泰克 嵌入式

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