Agilent分析探針支持533MTps設(shè)計和調(diào)試

日前推出的FSI-60075內(nèi)插件分析探針，是Agilent(安捷倫科技)專為下一代DDR2 SDRAM總線分析而設(shè)計的產(chǎn)品。該新品為低平外形內(nèi)插件，對DDR2總線影響小，可使用任何Jedec標(biāo)準(zhǔn)的DDR2雙在線存儲模塊(DIMM)在533MTps下進行設(shè)計和調(diào)試。且其垂直設(shè)計還最小化了水平方向的外部區(qū)域，從而允許DIMM緊鄰探針安裝在槽內(nèi)。www.agilent.com