美國(guó)國(guó)家儀器公司發(fā)布11款新的RF開(kāi)關(guān)
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所有的11款模塊均提供極低的插入損失(在特定帶寬情況下小于2.1dB)和電壓駐波率(帶寬小于1.75),以便將功率損耗、電壓衰減和信號(hào)反射都降到最小。市場(chǎng)上其他的PXIRF開(kāi)關(guān)一般具有3dB的插入損失和在帶寬頻率下大于1.8的電壓駐波率。這些新模塊還提供繼電器計(jì)數(shù)追蹤,這是一種NIPXI模塊獨(dú)家提供的特性,讓工程師們可以追蹤硬件板上繼電器的閉合,從而預(yù)測(cè)模塊上每一個(gè)繼電器的使用壽命,并避免意外的系統(tǒng)當(dāng)機(jī)。
工程師們可以使用功能齊全的NI-SWITCH驅(qū)動(dòng)軟件編程所有這些開(kāi)關(guān)模塊,使得基本的繼電器操作可以在通用開(kāi)發(fā)環(huán)境中運(yùn)行,如NILabVIEW圖形化開(kāi)發(fā)環(huán)境、為ANSIC開(kāi)發(fā)的LabWindows/CVI和MicrosoftVisualBasic/C++。如果需要其他的配置、編程和管理多通道數(shù)開(kāi)關(guān)系統(tǒng)的需求,可以使用NISwitchExecutive軟件實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單易用的智能開(kāi)關(guān)管理和視覺(jué)路由環(huán)境。一旦工程師配置好開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò),且對(duì)其進(jìn)行了編程,他們就能基于NITestStand完成發(fā)布任務(wù)。NITestStand是一個(gè)專(zhuān)為簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試和驗(yàn)證系統(tǒng)而開(kāi)發(fā)的簡(jiǎn)單易用的測(cè)試管理環(huán)境和框架。
評(píng)論