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LCD Driver IC 測(cè)試方法及其對(duì)測(cè)試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)

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作者:宗偉,愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試(蘇州)有限公司上海分公司SE技術(shù)部 時(shí)間:2005-09-05 來(lái)源:EDN電子設(shè)計(jì)技術(shù) 收藏
測(cè)試方法及其對(duì)測(cè)試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)(2)
 
 
 

  假設(shè)被測(cè)的是256色、384 輸出且具有Dot 翻轉(zhuǎn)功能的,那么由公式可得需要測(cè)試的電壓值個(gè)數(shù)為:
  256(顏色深度)x384(pin數(shù))x2(Dot 翻轉(zhuǎn)) =196,608
  一般的DC測(cè)試部件的測(cè)試時(shí)間為幾到幾十個(gè)uS,由此可知測(cè)試時(shí)間將會(huì)比較長(zhǎng)。如果的色彩深度高一些的話(65535色),測(cè)試時(shí)間根本無(wú)法讓人接受,因此在進(jìn)行此類(lèi)測(cè)試時(shí)需要使用數(shù)字采樣器(Digitizer)來(lái)連續(xù)地進(jìn)行電壓采樣,這樣就可以在很短的時(shí)間進(jìn)行此項(xiàng)繁復(fù)的測(cè)試了。在這種情況下,由于輸出引腳數(shù)量很大,可以同時(shí)進(jìn)行電壓采樣的數(shù)字采樣器的數(shù)量與所需的測(cè)試時(shí)間成反比,增加同步工作的數(shù)字采樣器的數(shù)量將會(huì)節(jié)約測(cè)試時(shí)間,大幅降低IC的相對(duì)生產(chǎn)成本,但是另一方面,數(shù)字采樣器數(shù)量的提升會(huì)引起測(cè)試系統(tǒng)成本的上升,因此適當(dāng)?shù)貙⒚繋讉€(gè)LCD輸出通道配備一個(gè)數(shù)字采樣器是一個(gè)折中的解決方案,例如Advantest的T6371測(cè)試系統(tǒng)就是使用每八個(gè)LCD輸出引腳配備一個(gè)數(shù)字采樣器的配置方法。
  另外,由于需要采樣數(shù)據(jù)量巨大,數(shù)據(jù)運(yùn)算也需要一定的時(shí)間,如果在數(shù)據(jù)采樣的同時(shí)能夠進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算的工作的話,將大大縮短測(cè)試時(shí)間。目前這種工作方式在T6371測(cè)試系統(tǒng)上已經(jīng)通過(guò)Double-bank AQM的構(gòu)架實(shí)現(xiàn)。
  (9) 其他
  當(dāng)然,由于各種LCD 器件差異、生產(chǎn)廠商的不同,以及IC內(nèi)部構(gòu)架的不同,各種LCD IC都會(huì)具有一些獨(dú)特的測(cè)試項(xiàng)目,應(yīng)當(dāng)根據(jù)實(shí)際情況選擇測(cè)試項(xiàng)目。
  LCD IC的特點(diǎn)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)
  圖4為常見(jiàn)LCD Driver IC的引腳分布:

  LCD Driver IC的輸出引腳數(shù)量很大
  雖然LCD顯示器件規(guī)格的不斷擴(kuò)大(>17 inch),但是行列驅(qū)動(dòng)芯片的數(shù)量卻基本上不變,這使得單個(gè)IC的LCD 驅(qū)動(dòng)引腳的數(shù)目也就愈來(lái)愈多,許多LCD Driver IC的驅(qū)動(dòng)引腳數(shù)已經(jīng)達(dá)到700以上,參見(jiàn)下表,QXGA所需的LCD Driver輸出引腳數(shù)目的計(jì)算公式為:
  QXGA 2048(Pixel)

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