基于C8051F的動(dòng)平衡測(cè)試系統(tǒng)

　　3.2  實(shí)驗(yàn)

　　以下為在一種實(shí)驗(yàn)裝置上的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。實(shí)驗(yàn)中我們?cè)O(shè)計(jì)被測(cè)件的轉(zhuǎn)速為5HZ，每周采樣64點(diǎn)，圖2是實(shí)驗(yàn)中某一傳感器上采集到數(shù)據(jù)的波形圖，由圖2可以看出其有用信號(hào)完全淹沒在噪聲中。

圖2實(shí)際采樣信號(hào)時(shí)域波形

　　圖3是采用FFT算法對(duì)采集數(shù)據(jù)進(jìn)行頻域分析的數(shù)據(jù)圖，可以看到，除了5HZ的基頻信號(hào)，還存在兩個(gè)個(gè)幅值較大的較高頻率信號(hào)的干擾以及幅值很小的其他頻率干擾，與采集數(shù)據(jù)是吻合的。由于實(shí)驗(yàn)中的不平衡量加的比較小，所以我們看到噪聲干擾的幅值比基頻的幅值更大。

圖3采樣信號(hào)的傅立葉頻譜圖

　　4  結(jié)論

　　(1)筆者通過對(duì)一種動(dòng)平衡測(cè)試系統(tǒng)改造，并實(shí)際驗(yàn)證了本測(cè)試系統(tǒng)，每周采樣512點(diǎn)，平衡精度達(dá)到1g，。

　　(2)由于采用基于SOC技術(shù)的MCU，其豐富的片上外設(shè)，使系統(tǒng)體積大大縮小，電路更簡(jiǎn)潔，抗干擾能力得到提升，并且還有再擴(kuò)展能力。

　　(3)MCU采用可編程FLASH技術(shù)可實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)軟件升級(jí)，提高了系統(tǒng)彈性。

　　本文作者創(chuàng)新點(diǎn)：采用高性能SOC技術(shù)芯片，簡(jiǎn)化系統(tǒng)復(fù)雜度，提升系統(tǒng)運(yùn)算能力，提高了測(cè)試系統(tǒng)抗干擾能力與測(cè)量精度。

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