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NASA采用NI LabVIEW縮短開發(fā)時(shí)間降低成本

作者: 時(shí)間:2009-05-20 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  發(fā)展靈活測(cè)試的技術(shù)

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/94547.htm

  通過創(chuàng)建模塊化測(cè)試軟件配置自定義測(cè)試,以最小的代碼修改來添加或改換設(shè)備。在控制環(huán)境中復(fù)制測(cè)試設(shè)備要求軟件同步運(yùn)行兩個(gè)測(cè)試。由于需要集成多個(gè)不同設(shè)備及維護(hù)模塊化代碼,成為開發(fā)語言的最佳選擇。

  測(cè)試步驟是向測(cè)試器發(fā)送一系列指令,這些指令實(shí)現(xiàn)預(yù)先定義的功能。通過該步驟,用戶無需修改代碼就可配置新測(cè)試。

  例如,根據(jù)成像的陣列循環(huán)測(cè)試步驟如下:

  ● 微快門元件上電

  ● 陣列磁偏轉(zhuǎn)(打開所有快門)

  ● 采集圖像

  ● 微快門陣列斷電(關(guān)閉所有快門)

  ● 采集圖像

  用戶可以將該測(cè)試與之前經(jīng)過陣列磁偏轉(zhuǎn)的采集圖像測(cè)試進(jìn)行 比較。結(jié)果清楚顯示了在沒有附加磁偏轉(zhuǎn)下元件間歇性保持關(guān)閉狀態(tài)時(shí)的彈壓。

  需要成像的測(cè)試循環(huán)比不需要成像的測(cè)試循環(huán)花費(fèi)更多的時(shí)間。為了在需要成像的情況下進(jìn)行上萬次測(cè)試循環(huán),我們?cè)O(shè)計(jì)的系統(tǒng)允許同時(shí)進(jìn)行兩組測(cè)試步驟。測(cè)試腳本中結(jié)合兩個(gè)循環(huán)步驟,在成像步驟前列出完整的磁偏轉(zhuǎn)循環(huán)步驟。有了這項(xiàng)功能,用戶可設(shè)置在測(cè)試開始階段獲取大量圖像,而測(cè)試過程中獲取少量圖像,從而提高測(cè)試速度及圖像反饋。

  這是一個(gè)重要特性,在微快門的早期測(cè)試中顯示,快門失效率隨著激勵(lì)的增加而降低。

  為了適應(yīng)測(cè)試站的硬件修改,設(shè)備驅(qū)動(dòng)以對(duì)象形式實(shí)現(xiàn),便于添加設(shè)備類型。例如,在下一代測(cè)試器中,用Sony 代替QImaging 攝像頭。雖然驅(qū)動(dòng)不同,但是除開基本代碼需要重寫外,軟件包括成像對(duì)象,其方法及屬性仍然保持不變,但其基本代碼需要重寫。

  該設(shè)計(jì)中,我們實(shí)現(xiàn)了新攝像頭的無縫集成,同時(shí)維持軟件整體的版本統(tǒng)一。更重要的是無需更新測(cè)試步驟。

  縮短開發(fā)時(shí)間,節(jié)省成本

  RSpec通過微快門陣列讓科學(xué)家能從詹姆斯·韋伯太空望遠(yuǎn)鏡上同步采集數(shù)百條光譜,這一能力在航天領(lǐng)域中首屈一指。新技術(shù)通過現(xiàn)代傳感器獲取大量數(shù)據(jù),但要求設(shè)備有足夠長的使用壽命。我們?cè)O(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試器允許用戶自定義測(cè)試,快速適應(yīng)新測(cè)試設(shè)備,同時(shí)只付出最小代價(jià),從而有助于微快門的性能研究及可行性驗(yàn)證。我們通過 快速完成了模塊化測(cè)試軟件,留下更多時(shí)間進(jìn)行早期開發(fā)問題的探測(cè)及診斷,大量節(jié)省總體成本。


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關(guān)鍵詞: NI LabVIEW 近紅外光譜儀

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