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新形勢(shì)下電子測(cè)試技術(shù)需求新趨勢(shì)

作者:李健 《電子產(chǎn)品世界》編輯 時(shí)間:2009-06-15 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  ● 基于嵌入式系統(tǒng)技術(shù)的全新而廣泛電子應(yīng)用:

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/95263.htm

  * 需要對(duì)大量“新技術(shù)”— 之前只在高速系統(tǒng)中使用的技術(shù),現(xiàn)在也廣泛應(yīng)用在嵌入式系統(tǒng);

  * 需要對(duì)混合信號(hào)環(huán)境進(jìn)行測(cè)試分析;

  * 針對(duì)多樣化的總線,需要高效靈活的測(cè)試方案。

  ● 基于無線通信技術(shù)的全新下一代網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用:

  * 以中國(guó)為例,需要最全面的能夠支持包括CDMA2000,WCDMA,TD以及核心網(wǎng)的NGN、WiMAX、LTE在內(nèi)的各種技術(shù)的網(wǎng)絡(luò)和終端測(cè)試解決方案;

  * 需要有支持2G/3G融合互操作的網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化解決方案和管理QoS客戶體驗(yàn)的質(zhì)量分析方案;下一代通信不只是技術(shù)的競(jìng)爭(zhēng),更重要是網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用和用戶管理。

  挑戰(zhàn)與解決策略

  對(duì)于廠商來說,不僅僅要針對(duì)技術(shù)需求的重點(diǎn)來進(jìn)行策略調(diào)整,同時(shí)還要面對(duì)測(cè)試工程師提出的更多新要求,像如何滿足多樣化的測(cè)量需求和任務(wù)?如何降低選擇和使用測(cè)試儀器的風(fēng)險(xiǎn)?如何加快用戶產(chǎn)品設(shè)計(jì)和調(diào)試周期?如何幫助用戶儀器投資最大化和產(chǎn)品創(chuàng)新?以上種種挑戰(zhàn),歸結(jié)到一點(diǎn)就是:現(xiàn)在我們身處在一個(gè)以方案為中心,以需求為導(dǎo)向,以服務(wù)為根本的新型市場(chǎng)。

  面臨的挑戰(zhàn)中很重要的一點(diǎn)是如何在改進(jìn)性能的同時(shí)降低測(cè)試成本。當(dāng)然,改進(jìn)性能涉及到很多方面,與實(shí)際應(yīng)用是不同的。在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中,改進(jìn)性能通常意味著實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)量精度。在生產(chǎn)條件下,中心問題是提高產(chǎn)能同時(shí)保持測(cè)量可重復(fù)性和精度。在這兩種情況下,最復(fù)雜的事情是上一問題中所提到的快速變化的環(huán)境;每當(dāng)一種測(cè)量系統(tǒng)或測(cè)量方案變得比較完善時(shí),似乎另外一種新的又需要進(jìn)行測(cè)試,或者半導(dǎo)體器件的幾何尺寸又在邁向45nm的道路上經(jīng)過了新一輪“縮小”,從而必須要對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行重新設(shè)計(jì)甚至重新構(gòu)建。降低這種情況下的測(cè)試成本意味著儀器制造商必須在設(shè)計(jì)新產(chǎn)品時(shí)極富創(chuàng)意。他們的設(shè)計(jì)是否向后兼容之前的產(chǎn)品?是否能夠?qū)⒍喾N儀器的功能集成到一套工具中,或者在尺寸更小的設(shè)備中集成更多的通道?是否集成了智能的固件和軟件功能,從而縮短系統(tǒng)配置和調(diào)試所需的時(shí)間?

  吉時(shí)利公司認(rèn)為,應(yīng)對(duì)挑戰(zhàn)必須不斷創(chuàng)新,其中包括研制出靈活而實(shí)用的測(cè)量?jī)x器。例如,一種能夠在不同環(huán)境下用于不同測(cè)試的儀器,或者集成多種功能的單臺(tái)儀器,能夠節(jié)省用戶購(gòu)買多臺(tái)儀器分別執(zhí)行各個(gè)任務(wù)的投資成本。很多先進(jìn)材料,包括納米技術(shù)和基于半導(dǎo)體的材料,都需要進(jìn)行多種電氣測(cè)量,例如超低電流和/或超高電阻特征分析。吉時(shí)利已經(jīng)在低壓測(cè)量領(lǐng)域獲得了經(jīng)驗(yàn)。雖然吉時(shí)利在這一領(lǐng)域處于領(lǐng)先地位,仍不斷推進(jìn)測(cè)量技術(shù),降低對(duì)產(chǎn)能增大的敏感性,提高生產(chǎn)良率,降低測(cè)試成本。

  羅德與施瓦茨陳峰則展望了在通信和航天與軍用測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展需求及挑戰(zhàn)。新的電子技術(shù)的發(fā)展主要體現(xiàn)在通信技術(shù)和航天與國(guó)防技術(shù)的發(fā)展,具體頻率和帶寬以及數(shù)字處理的能力的提高,因此,測(cè)量技術(shù)在這方面也要隨之提高。需要有更高的速度、更寬的帶寬和更高的精度。在通信領(lǐng)域,LTE的應(yīng)用是近期發(fā)展的目標(biāo);在航天與國(guó)防領(lǐng)域,新的測(cè)控技術(shù)、新型飛機(jī)與艦船、電子對(duì)抗以及隱形飛機(jī)和對(duì)應(yīng)的雷達(dá)技術(shù)帶來新的測(cè)試需求。



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