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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 主測(cè)試處理

衛(wèi)星綜合測(cè)試通用系統(tǒng)研究

  • 摘要：為了縮短周期和減少成本，開發(fā)了一種用于衛(wèi)星系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的“衛(wèi)星綜合測(cè)試通用系統(tǒng)研究”。本文章在簡(jiǎn)要說明了系統(tǒng)的主要目標(biāo)和技術(shù)指標(biāo)后，詳細(xì)介紹了系統(tǒng)各個(gè)組成部分的技術(shù)方案、技術(shù)途徑和解決的關(guān)鍵技術(shù)，歸納了所取得的技術(shù)成果和未來發(fā)展的設(shè)想。   關(guān)鍵詞：衛(wèi)星；綜合測(cè)試；主測(cè)試處理；數(shù)據(jù)庫；局域網(wǎng)（LAN）   0 引言        1990年代以前，我國(guó)航天器綜合測(cè)試是分散的手工操作模
  • 關(guān)鍵字： 測(cè)量  測(cè)試  局域網(wǎng)（LAN）  數(shù)據(jù)庫  衛(wèi)星  主測(cè)試處理  綜合測(cè)試  
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主測(cè)試處理介紹

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