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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 關(guān)鍵區(qū)域分析

存儲(chǔ)器冗余的關(guān)鍵區(qū)域分析

  • 存儲(chǔ)器冗余旨在通過提高片芯良品率,從而降低制造成本。如果不采用冗余方法,提高片芯良品率的其它方式可能包括使設(shè)計(jì)更小型化,或減少缺陷率。如果在設(shè)計(jì)中無效益的部分使用冗余,那是浪費(fèi)片芯面積和測(cè)試時(shí)間,增加了制造成本。在這兩個(gè)極端之間,要根據(jù)充分的指導(dǎo)方針來確定是否增加冗余。有高缺陷率的設(shè)計(jì)可能需要較多的冗余;而低缺陷率的設(shè)計(jì)則可能不需要冗余。要量化良品率的改善以及確定最佳配置,有必要采用關(guān)鍵區(qū)域分析與精確的代工廠缺陷統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),對(duì)存儲(chǔ)器冗余做分析。
  • 關(guān)鍵字: 存儲(chǔ)器冗余  隨機(jī)缺陷  關(guān)鍵區(qū)域分析  
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關(guān)鍵區(qū)域分析介紹

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