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基于內裝測試（BIT）技術的裝備控制系統(tǒng)故障診斷

  • 引言　　內裝測試(BIT)是20世紀70年代美國在軍用測試領域提出的全新的技術概念，其目的在于改善裝備的維修性、測試性和自診斷能力，同時也使裝備系統(tǒng)的機動性和保障性得到很大改善。20世紀70年代以來，以航天航空等國
  • 關鍵字： BIT  內裝  測試  故障診斷    
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