首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 內(nèi)部邏輯分析儀

內(nèi)部邏輯分析儀 文章 進入內(nèi)部邏輯分析儀技術社區(qū)

FPGA與DSP協(xié)同處理系統(tǒng)設計之：FPGA+DSP協(xié)同平臺的調(diào)試技巧和注意事項

  • 作為雙芯片的協(xié)同系統(tǒng)，調(diào)試的開始階段需要對每個芯片進行單獨測試。這種情況下就需要避免另外一個芯片對調(diào)試產(chǎn)生影響，比較好的辦法就是讓它停止工作。
  • 關鍵字： DSP  協(xié)同處理  FPGA  內(nèi)部邏輯分析儀  隔離調(diào)試  
共1條 1/1 1

內(nèi)部邏輯分析儀介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條內(nèi)部邏輯分析儀!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對內(nèi)部邏輯分析儀的理解，并與今后在此搜索內(nèi)部邏輯分析儀的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473