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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 分層測(cè)試

基于分層測(cè)試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測(cè)試新方法

  • 以基于靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)的現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)為例，在傳統(tǒng)的三次測(cè)試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對(duì)FPGA互聯(lián)資源的測(cè)試方法。該方法運(yùn)用了層次化的思想，根據(jù)開(kāi)關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(diǎn)(PIP)兩端連線資源的區(qū)別將互聯(lián)資源進(jìn)行層次化分類，使得以這種方式劃分的不同類別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進(jìn)行疊加測(cè)試，這就從根本上減少了實(shí)際需要的測(cè)試配置圖形和最小配置次數(shù)。
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分層測(cè)試介紹

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