首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 半導體電子束檢測

半導體電子束檢測 文章 進入半導體電子束檢測技術社區(qū)

瞄準16/14nm檢測需求 漢微科明年產能翻三倍

  • 　　半導體電子束檢測(E-beam Inspection)設備龍頭漢微科正全速擴產。繼28和20奈米(nm)之后，2015年晶圓代工廠紛紛跨入16或14奈米鰭式電晶體(FinFET)世代，對高解析度的電子束檢測設備需求將更加強勁，因而帶動漢微科提早展開布局，將于2013～2014年投入新臺幣10億元擴建新廠房，并于2014下半年正式投產，挹注三倍設備產能。 　　漢微科財務長李學寒表示，自2012年開始，晶圓代工業(yè)者已逐步在28奈米先進制程中導入高階電子束晶圓缺陷檢測設備，以克服電晶體密度大幅微縮后，傳統(tǒng)
  • 關鍵字： 漢微科  半導體電子束檢測  
共1條 1/1 1

半導體電子束檢測介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條半導體電子束檢測!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對半導體電子束檢測的理解，并與今后在此搜索半導體電子束檢測的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網安備11010802012473