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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 參數(shù)分析儀

【泰克干貨分享】閃爍噪聲的監(jiān)測，詳解用SCS參數(shù)分析儀測試1/f噪聲

  • 電子器件會有不同類型的噪聲源，包括熱噪聲、白噪聲和1/f噪聲。1/f噪聲是低頻電子噪聲，其電流（ISD）或功率（PSD）頻譜密度與頻率成反比，見下圖典型噪聲譜，前面是1/f噪聲，大小和頻率相反，后面是白噪聲，均勻分布。由于1/f噪聲反映了器件的質(zhì)量、可靠性等參數(shù) , 其研究越來越為人們所重視。 1/f噪聲測試為確定器件的1/f噪聲，我們通常要測量電流相對于時間的關系，然后通過快速傅立葉變換（FFT）把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到頻域。為保證準確性，儀器本身噪聲必須小于DUT噪聲，所以測試方案推薦使用能測試極小電流的4200
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4200A-CVIV多開關使測試時間縮短30倍

  • 泰克高性能4200A-SCS 是一個模塊化、可定制、高度一體化的參數(shù)分析儀，可同時進行電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 電學測試。
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全新參數(shù)分析儀降低特性分析復雜度，加快獲得信息的速度

  • 　　全球領先的測量解決方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀，通過降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復雜度，簡化測試設置，提供清楚精確的結(jié)果，加快了用戶獲得半導體器件、材料和工藝洞察力的速度。 　　Keithley 4200-SCS參數(shù)分析儀已經(jīng)取得了巨大的成功，在此基礎上，新推出的4200A-SCS儀器采用現(xiàn)代工業(yè)設計，擁有全新圖形用戶界面及多種自學工具，如儀器內(nèi)嵌的專家指導視頻。其結(jié)果，是測試設置時間縮短
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參數(shù)分析儀介紹

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