首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 噪聲分析儀

是德科技晶圓級解決方案平臺完美集成低頻噪聲測量

  • 　　是德科技公司宣布推出最新款的高性能先進低頻噪聲分析儀(A-LFNA)，旨在實施快速、準確、可重復的低頻噪聲測量。該版本配備全新用戶界面，并與是德科技的 WaferPro Express 軟件緊密集成——這是一款對半導體器件執(zhí)行自動化晶圓級測量的平臺。作為這一大框架的組成部分，該平臺能讓工程師更好地理解器件和電路中的噪聲。相比之下，獨立系統(tǒng)要達到同樣目標，需要進行大量復雜測量。 　　當今的半導體器件表征工程師通常希望采用靈活、可擴展的噪聲測量系統(tǒng)。他們尤其需要一個功能強大的綜合
  • 關(guān)鍵字： 是德科技  噪聲分析儀  
共1條 1/1 1

噪聲分析儀介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條噪聲分析儀!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對噪聲分析儀的理解，并與今后在此搜索噪聲分析儀的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473