在片器件測(cè)試 文章 進(jìn)入在片器件測(cè)試技術(shù)社區(qū)

羅德與施瓦茨發(fā)布在片器件測(cè)試解決方案

• 羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測(cè)試解決方案，該方案結(jié)合了羅德與施瓦茨強(qiáng)大的R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和FormFactor先進(jìn)的工程探針臺(tái)系統(tǒng)。半導(dǎo)體制造商可以在產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)、認(rèn)證和生產(chǎn)階段執(zhí)行可靠且可重復(fù)的在片器件特性測(cè)試。 整個(gè)在片測(cè)量工作由R&S ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀與FormFactor SUMMIT200探針臺(tái)系統(tǒng)一起完成。5G 射頻前端設(shè)計(jì)師需要確保適當(dāng)?shù)钠骷敵龉β屎蜕漕l帶寬，同時(shí)兼顧優(yōu)化器件效率。設(shè)計(jì)流程中的一個(gè)重要階段是驗(yàn)證射頻設(shè)計(jì)，盡早獲得相關(guān)設(shè)
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