在線測(cè)試文章進(jìn)入在線測(cè)試技術(shù)社區(qū)

在線測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展（二）

2.3 數(shù)字器件的測(cè)量　　首先，我們要回顧一下數(shù)字器件的特點(diǎn)，數(shù)字器件只有2種電平：高電平和低電平，所以測(cè)試程 ...
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1 引言　　在線測(cè)試曾作為組裝后PCB測(cè)試的主導(dǎo)技術(shù)而占據(jù)市場(chǎng)絕對(duì)優(yōu)勢(shì)，但隨著電子組裝技術(shù)的發(fā)展，PCB的密度 ...
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以往，通常只有兩種自動(dòng)測(cè)試方法：在線測(cè)試（ICT）和功能性測(cè)試。隨著過(guò)去幾年內(nèi)PC性能的大幅提升，涌現(xiàn)出了...
關(guān)鍵字：測(cè)試在線測(cè)試架構(gòu)

1 引言在線測(cè)試曾作為組裝后PCB測(cè)試的主導(dǎo)技術(shù)而占據(jù)市場(chǎng)絕對(duì)優(yōu)勢(shì)，但隨著電子組裝技術(shù)的發(fā)展，PCB的密度越來(lái)越高，測(cè)試點(diǎn)間距越來(lái)越小，測(cè)試點(diǎn)數(shù)量越來(lái)越多，這一切都給傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)帶來(lái)挑戰(zhàn)，加之各種新型測(cè)試技
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作為一個(gè)PCB LAYOUT工程師必須了解ICT飛針在線測(cè)試，這樣對(duì)在PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中加測(cè)試點(diǎn)的意義就很清楚了。很多公 ...
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摘　要　介紹了一種新穎的單片機(jī)控制電阻電容在線測(cè)試系統(tǒng)，并詳細(xì)論述了系統(tǒng)組成，電阻、電容在線測(cè)試原理以及 ...
關(guān)鍵字：電阻電容　在線測(cè)試　單片機(jī)　電隔離

【摘　要】　采用單片機(jī)仿真技術(shù)和程控自動(dòng)探針測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了單片機(jī)應(yīng)用電路板的在線測(cè)試及故障診斷的設(shè)計(jì) ...
關(guān)鍵字：單片機(jī) 仿真測(cè)試故障診斷在線測(cè)試

一、蓄電池落后的原因及檢測(cè)重要閥控式鉛酸蓄電池（VRLA）從一開(kāi)始便被稱為免維護(hù)電池，而生產(chǎn)廠家又承諾該電池的使用壽命為10 ~ 20年（最少為8年），這樣就給我們電力系統(tǒng)維護(hù)人員一種誤解，似乎這種電池既耐用又完
關(guān)鍵字：分析比較技術(shù) 在線測(cè)試蓄電池

摘要：針對(duì)Altera公司現(xiàn)有FPGA在線測(cè)試方法無(wú)法適應(yīng)大批量測(cè)試／激勵(lì)數(shù)據(jù)自動(dòng)傳輸?shù)那闆r，論文提出了一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法，該方法采用Nios II控制數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程、DMA協(xié)助數(shù)據(jù)傳輸、FIFO作為數(shù)據(jù)暫存，采用
關(guān)鍵字： SoPC FPGA 在線測(cè)試方法

本文介紹了掛式空調(diào)器用控制板在生產(chǎn)過(guò)程中采用專(zhuān)門(mén)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過(guò)程，詳細(xì)說(shuō)明了掛式空調(diào)器用控制板主要功能測(cè)試所用到的硬件電路和軟件結(jié)構(gòu)，對(duì)研究線路板自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)有借鑒意義。
關(guān)鍵字：測(cè)試儀在線測(cè)試功能測(cè)試上位機(jī) 201005

摘要：在設(shè)計(jì)信號(hào)處理機(jī)的工作中,需要分析模數(shù)轉(zhuǎn)換電路模塊對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的影響。5、無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍其中，AF_IN為 ...
關(guān)鍵字： ADC 處理機(jī) 動(dòng)態(tài)性能模塊奈奎斯特在線測(cè)試 matlab軟件測(cè)試信號(hào) 離散時(shí)間 AD轉(zhuǎn)換

針對(duì)UM71無(wú)絕緣軌道電路中補(bǔ)償電容的測(cè)量，設(shè)計(jì)了一種基于超低功耗單片機(jī)MSP430的補(bǔ)償電容以及鐵路信號(hào)頻率測(cè)量的便攜式測(cè)試儀。
關(guān)鍵字：設(shè)計(jì) 實(shí)現(xiàn) 在線測(cè)試電路 MSP430 軌道基于

　　前言　　GR228X在線測(cè)試系統(tǒng)(簡(jiǎn)稱GR228X測(cè)試系統(tǒng)或GR228X系統(tǒng))，是目前在線測(cè)試系統(tǒng)中以自動(dòng)程序控制見(jiàn)長(zhǎng)的典型的板測(cè)試系統(tǒng)。它采用高精度的測(cè)試診斷技術(shù)對(duì)印刷線路板實(shí)施快速的電子測(cè)試，是由計(jì)算機(jī)控制的組合測(cè)試系統(tǒng)。該類(lèi)系統(tǒng)運(yùn)行在基于Microsoft Windows操作系統(tǒng)的軟件平臺(tái)上，配備了多種所需的軟硬件部件。　　GR228X在線測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu) 　　圖1示出GR228X測(cè)試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)部件。　　GR228X在線測(cè)試系統(tǒng)由多種專(zhuān)門(mén)的單元模塊和部件構(gòu)成。系統(tǒng)設(shè)備內(nèi)部的
關(guān)鍵字：貝爾在線測(cè)試 GR228X

安捷倫為需要“剛好夠用”的設(shè)計(jì)制造商(ODM)推出一種低成本在線測(cè)試系統(tǒng)。這一新系統(tǒng)提供了一種經(jīng)濟(jì)的方式，在測(cè)試大批量消費(fèi)性電子產(chǎn)品和個(gè)人電腦主板時(shí)實(shí)現(xiàn)了最高的信心。制造缺陷分析儀(MDA)測(cè)試系統(tǒng)和其它在線測(cè)試(ICT)系統(tǒng)大多采用安捷倫開(kāi)創(chuàng)的上一代TestJet技術(shù)，與此不同的是，Medalist i1000提供了安捷倫尖端的VTEP v2.0無(wú)矢量測(cè)試套件。VTEP v2.0由屢獲大獎(jiǎng)的iVTEP和新型網(wǎng)絡(luò)參數(shù)測(cè)量技術(shù)(NPM)組成，為微型球柵陣列和倒裝芯片提供了空前
關(guān)鍵字：安捷倫測(cè)量測(cè)試在線測(cè)試