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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 容錯(cuò)

解析WSN的芯片技術(shù)及解決方案

  • 由許多感測節(jié)點(diǎn)所構(gòu)成的WSN（無線感測網(wǎng)路），可各種環(huán)境需求來設(shè)置。而為了長期運(yùn)作，大多采用低功耗與節(jié)電設(shè)計(jì)，必要時(shí)再搭配能源采集的功能，讓運(yùn)作時(shí)間更長久。而在感測資料的搜集與傳遞部份，除感測器必須量測精準(zhǔn)，各節(jié)點(diǎn)之間的資料傳輸也必須力求通暢，并具有容錯(cuò)能力。
  • 關(guān)鍵字： RFID  WSN  MEMS  容錯(cuò)  無線感測網(wǎng)路  

大型數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中心高智能容錯(cuò)雙總線系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案

  • 1 概述大型數(shù)據(jù)中心存儲(chǔ)中心機(jī)房專門為核心數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)保存，確保數(shù)據(jù)萬無一失，地理位置相對(duì)偏僻安全，不容易發(fā)現(xiàn)，預(yù)計(jì)機(jī)柜500架，每個(gè)機(jī)架規(guī)劃容量按4kVA計(jì)算，實(shí)際使用容量2.5kW。為保證數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中心機(jī)房內(nèi)所有
  • 關(guān)鍵字： 總線  系統(tǒng)  設(shè)計(jì)  方案  容錯(cuò)  智能  數(shù)據(jù)  存儲(chǔ)  中心  大型  

網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)系統(tǒng)容錯(cuò)編碼技術(shù)進(jìn)展

  • 摘要:專業(yè)的大型磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)均發(fā)展為包含多塊磁盤的大型陣列系統(tǒng)。隨著系統(tǒng)中的磁盤數(shù)目的不斷增加，由磁盤失效引起的數(shù)據(jù)丟失的可能性越來越大。對(duì)于由存儲(chǔ)系統(tǒng)中部分磁盤失效所引起的數(shù)據(jù)丟失的問題，目前業(yè)界公
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臺(tái)達(dá)高智能、容錯(cuò)UPS的發(fā)展趨勢

  • 摘要：人們對(duì)UPS需求的改變引導(dǎo)著UPS不斷地發(fā)展變化，現(xiàn)階段智能、容錯(cuò)是UPS的發(fā)展趨勢關(guān)鍵詞：智能 容錯(cuò) 海福 HIFTAbstract：Keyword：縱觀UPS的發(fā)展歷史，由動(dòng)態(tài)到靜態(tài)、由工頻到高頻、由低指標(biāo)到高性能 hellip;
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單相正弦波逆變器容錯(cuò)控制研究

  • 摘要：介紹了一種具有容錯(cuò)能力的單相正弦波逆變系統(tǒng)。在診斷單相正弦波逆變器功率開關(guān)觸發(fā)脈沖丟失故障的基礎(chǔ)上，對(duì)故障后電路采用主動(dòng)容錯(cuò)控制策略，將電路拓?fù)溥M(jìn)行重構(gòu)，使單相正弦波逆變器在功率開關(guān)觸發(fā)脈沖丟失
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一種超低功耗、容錯(cuò)的靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)

  • 摘要：為了減輕輻射環(huán)境中靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)受單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)的影響以及解決低功耗和穩(wěn)定性的問題，采用TSMC 90 nm工藝，設(shè)計(jì)了一款可應(yīng)用于輻射環(huán)境中的超低功耗容錯(cuò)靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器。該SRAM基于雙互鎖存儲(chǔ)單元(
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容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法

  • 容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法,摘要：闡述了自校驗(yàn)技術(shù)在容錯(cuò)系統(tǒng)中的作用，給出了自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)原理及實(shí)現(xiàn)方法，指出用VHDL語言結(jié)合FPGA/CPLD是實(shí)現(xiàn)大規(guī)模自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)的有效途徑。關(guān)鍵詞：容錯(cuò)自校驗(yàn)完全自校驗(yàn)VHDLFPGA/CPLD容錯(cuò)是容忍錯(cuò)誤的簡稱
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嵌入式雙機(jī)容錯(cuò)實(shí)時(shí)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 嵌入式雙機(jī)容錯(cuò)實(shí)時(shí)系統(tǒng)的設(shè)計(jì),容錯(cuò)實(shí)時(shí)系統(tǒng)的研究主要集中在兩個(gè)方面：① 改進(jìn)實(shí)時(shí)調(diào)度算法，使之確保實(shí)時(shí)任務(wù)在正常運(yùn)行和遇到錯(cuò)誤時(shí)，均能在規(guī)定時(shí)限到來以前獲得正確的輸出。② 將過去應(yīng)用于普通計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的冗余容錯(cuò)策略移植到實(shí)時(shí)系統(tǒng)中。
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基于動(dòng)態(tài)可重構(gòu)FPGA的容錯(cuò)技術(shù)研究

  • 摘要：針對(duì)重構(gòu)文件的大小、動(dòng)態(tài)容錯(cuò)時(shí)隙的長短、實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜性、模塊間通信方式、冗余資源的比例與布局等關(guān)鍵問題進(jìn)行了分析。并對(duì)一些突出問題，提出了基于算法和資源多級(jí)分塊的解決方法，闡述了新方法的性能，及其
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基于FPGA的三模冗余容錯(cuò)技術(shù)研究

  • 摘要：基于SRAM的FPGA對(duì)于空間粒子輻射非常敏感，很容易產(chǎn)生軟故障，所以對(duì)基于FPGA的電子系統(tǒng)采取容錯(cuò)措施以防止此類故障的出現(xiàn)是非常重要的。三模冗余(TMR)方法以其實(shí)現(xiàn)的簡單性和效果的可靠性而被廣泛用于對(duì)單粒子
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單點(diǎn)溫度保護(hù)系統(tǒng)的容錯(cuò)邏輯設(shè)計(jì)

  • 為了提高溫度保護(hù)系統(tǒng)的可靠性，在溫度保護(hù)的邏輯設(shè)計(jì)中可采用容錯(cuò)設(shè)計(jì)，即盡可能考慮測溫環(huán)節(jié)在運(yùn)行中容易出現(xiàn)的故障，并通過預(yù)先設(shè)置的邏輯措施來識(shí)別錯(cuò)誤的溫度信號(hào)，以防保護(hù)系統(tǒng)誤動(dòng)。
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