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嵌入式測(cè)試文章進(jìn)入嵌入式測(cè)試技術(shù)社區(qū)

Tektronix攜手NI將在推出聯(lián)合產(chǎn)品創(chuàng)新計(jì)劃

　　泰克公司和美國(guó)國(guó)家儀器有限公司日前宣布，將繼續(xù)拓展雙方超過(guò)20年的合作伙伴關(guān)系，進(jìn)一步推出創(chuàng)新協(xié)作計(jì)劃，共同開發(fā)多項(xiàng)創(chuàng)新產(chǎn)品，以幫助從事設(shè)計(jì)驗(yàn)證、制造測(cè)試、科學(xué)研究和嵌入式測(cè)試的工程師和科學(xué)家有效提高效率，同時(shí)降低成本。兩家公司將于8月4日到6日在德克薩斯州奧斯汀市舉辦的NIWeek 2009年會(huì)上公布具體合作細(xì)節(jié)。　　根據(jù)2009年度EDN “工程師行為(Mind of the Engineer)”調(diào)查結(jié)果顯示，近兩年來(lái)，由于經(jīng)濟(jì)衰退，電子設(shè)計(jì)工程師面臨的挑戰(zhàn)正進(jìn)一步加劇
關(guān)鍵字： NI LabVIEW 嵌入式測(cè)試

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嵌入式測(cè)試介紹

嵌入式軟件測(cè)試/嵌入式測(cè)試或叫交叉測(cè)試（cross-test）的日的與非嵌入式軟件是相同的。但是，在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，軟件正越來(lái)越多地取代硬件，以降低系統(tǒng)的成本，獲得更大的靈活性，這就需要使用更好的測(cè)試方法和工具進(jìn)行嵌入式和實(shí)時(shí)軟件的測(cè)試。通常嵌入式系統(tǒng)對(duì)可靠性的要求比較高。嵌入式系統(tǒng)安全性的失效可能會(huì)導(dǎo)致災(zāi)難性的后果，即使是非安全性系統(tǒng)，由于大批量生產(chǎn)也會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。這就要求對(duì)嵌入式系 [ 查看詳細(xì) ]

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