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差錯(cuò)
差錯(cuò) 文章 進(jìn)入差錯(cuò)技術(shù)社區(qū)
基于ARM的2M測(cè)試系統(tǒng)
- 1引言 數(shù)字通訊飛速發(fā)展的今天, 2M口日益成為重要的設(shè)備投入業(yè)務(wù)測(cè)試點(diǎn)和運(yùn)營(yíng)維護(hù)測(cè)試點(diǎn)。數(shù)字通訊飛速發(fā)展的今天,建立綜合業(yè)務(wù)數(shù)字網(wǎng)正成為電信經(jīng)營(yíng)者努力的方向。差錯(cuò)(誤碼、誤塊)性能作為數(shù)字網(wǎng)的重要傳輸性能指標(biāo),是網(wǎng)絡(luò)營(yíng)運(yùn)者進(jìn)行數(shù)字網(wǎng)建設(shè)、維護(hù)的重要依據(jù);也是評(píng)估電信業(yè)務(wù)性能優(yōu)劣的標(biāo)準(zhǔn)之一。 因此,國(guó)際電聯(lián)(ITU-T)極為重視對(duì)差錯(cuò)的研究,近年來(lái),針對(duì)數(shù)字網(wǎng)的設(shè)計(jì)、安裝、維護(hù)的要求,推出了一系列有關(guān)誤碼性能的建議。目前我國(guó)工程技術(shù)人員所使用的測(cè)試儀多為國(guó)外進(jìn)口產(chǎn)品,產(chǎn)品價(jià)格昂貴。而國(guó)產(chǎn)的測(cè)試儀
- 關(guān)鍵字: ARM 2M 測(cè)試 差錯(cuò) 語(yǔ)音監(jiān)聽(tīng) 微控制器
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差錯(cuò)介紹
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