首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 并行測試fpga激勵信

FPGA的并行多通道激勵信號產(chǎn)生拈

  • 引言并行測試的實現(xiàn)途徑分為軟件方式和硬件方式。用軟件方式實現(xiàn)并行測試,關(guān)鍵是對測試任務(wù)的分解和調(diào)度,但可能會產(chǎn)生競爭或者死鎖現(xiàn)象。因此,在測試資源有限并且任務(wù)分解和調(diào)度算法不成熟的情況下,用軟件實現(xiàn)并行測試...
  • 關(guān)鍵字: 并行測試FPGA激勵信  
共1條 1/1 1

并行測試fpga激勵信介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條并行測試fpga激勵信!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對并行測試fpga激勵信的理解,并與今后在此搜索并行測試fpga激勵信的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473