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一種簡化的MCU程序保護(hù)設(shè)計

• 受電磁干擾影響，單片機(jī)的程序讀取時會出錯，最終造成程序走飛和數(shù)據(jù)出錯。目前廣泛采用的看門狗技術(shù)只對部分程序走飛現(xiàn)象有效，而對程序執(zhí)行錯造成的數(shù)據(jù)錯無效。根據(jù)報道的受干擾而造成數(shù)據(jù)錯概率統(tǒng)計數(shù)據(jù)，計算出引起MCU系統(tǒng)失效的概率已遠(yuǎn)大于功能安全要求的失效率。為了解決這一問題，需要對讀取的程序指令加以檢驗(yàn)。國外有的單片機(jī)已經(jīng)添加了這一功能，即糾錯編碼(ECC)。本文建議一種簡化的檢驗(yàn)功能，它基于并行的CRC檢驗(yàn)，提出了求取并行CRC檢驗(yàn)邏輯的方法。
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