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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 開路檢測

智能高邊開關(guān)的開路檢測

  • 在英飛凌開發(fā)者論壇(Infineon Developer Community)里，智能高邊開關(guān)的負(fù)載開路檢測一直是一個熱度很高的話題。負(fù)載開路故障主要是由兩種原因引起，一種是導(dǎo)線斷裂，另一種是負(fù)載損壞。按照要求，當(dāng)汽車轉(zhuǎn)向燈斷開時，需要用加倍的閃爍頻率來提示故障。而其他類型的負(fù)載開路故障則通常由OEM進行定義，但控制單元首先要得到故障信息，而英飛凌的智能高邊芯片(PROFET)可以對開路進行檢測并報告。智能高邊開關(guān)的開路檢測分為開通狀態(tài)(ON state)開路檢測和關(guān)斷狀態(tài)(OFF state)開路檢測，
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BGA開路檢測：面向測試的設(shè)計方法

  • 球柵列陣封裝的日益發(fā)展和流行給制造商和設(shè)備供應(yīng)商不斷帶來了新的挑戰(zhàn)。由于隱藏焊點數(shù)量高，通過視覺檢...
  • 關(guān)鍵字： BGA  開路檢測  球柵列陣封裝  PCBA  
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開路檢測介紹

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