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集成電路測試機的挑戰(zhàn)與趨勢

  • 　　迎?九?（《電子產(chǎn)品世界》編輯，北京?100036）　　摘?要：介紹了集成電路測試機（ATE）面臨的挑戰(zhàn)與解決方案?！　￡P(guān)鍵詞：集成電路；測試；微調(diào)；trim　　集成電路自動測試設(shè)備（ATE，測試機）是檢測芯片功能和性能的專用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測，2019年中國測試機占據(jù)后道檢測設(shè)備62.8%的份額 [1] 。ATE測試的趨勢是什么？電子產(chǎn)品世界記者訪問了泰瑞達業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士?！　? 芯片測試的新挑戰(zhàn)　　當(dāng)今的半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性
  • 關(guān)鍵字： 202001  集成電路  測試  微調(diào)  trim  

如何對淺放電應(yīng)用中磷酸鐵鋰 (LiFePO4) 電池使用的TI 阻抗跟蹤電池電量計進行微調(diào)

  • TI 的阻抗跟蹤 TM 電池電量計技術(shù)是一種功能強大的自適應(yīng)算法，其會記住電池特性隨時間的變化情況。將這種算法與電池組具體的化學(xué)屬性結(jié)合可以非常準確地知道電池的充電狀態(tài) (SOC)，從而延長電池組使用壽命。然而，更
  • 關(guān)鍵字： 電池  阻抗  跟蹤  電量  微調(diào)  進行  TI  使用  放電  應(yīng)用  磷酸  
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