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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 技術(shù)的嵌入式

探討基于JTAG技術(shù)的嵌入式系統(tǒng)測試的各個(gè)階段

  • 引言 IEEE 1149.1邊界掃描測試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
  • 關(guān)鍵字： JTAG  技術(shù)的嵌入式  系統(tǒng)測試    
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技術(shù)的嵌入式介紹

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