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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 數(shù)字測(cè)試儀

數(shù)字測(cè)試儀下的參數(shù)測(cè)試單元的設(shè)計(jì)(圖)

  • 本文提出了一種高速度高精度的參數(shù)測(cè)量單元。該單元應(yīng)用于數(shù)字測(cè)試儀,具備16通道選通測(cè)試能力和可編程指令集,同時(shí)自帶的PID循環(huán)驗(yàn)證和Kelvin四線連接技術(shù)可以有效提高整個(gè)模擬參數(shù)測(cè)量精度,使測(cè)量?jī)x在低于50Ω的負(fù)載情況下仍能維持不超過(guò)千分之一的測(cè)試誤差。
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數(shù)字測(cè)試儀的各參數(shù)測(cè)試單元的設(shè)計(jì)

  • 隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展,數(shù)字集成電路得到了廣泛的應(yīng)用,數(shù)字芯片已經(jīng)滲透到各個(gè)生產(chǎn)、生活的領(lǐng)域。與之相對(duì)應(yīng)...
  • 關(guān)鍵字: 數(shù)字測(cè)試儀  參數(shù)測(cè)試單元  
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數(shù)字測(cè)試儀介紹

您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條數(shù)字測(cè)試儀!
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