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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 數(shù)字源表

利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測(cè)量單元系統(tǒng)系統(tǒng)實(shí)例

  • 利用測(cè)試夾具對(duì)封裝器件進(jìn)行測(cè)試吉時(shí)利8010型大功率器件測(cè)試夾具與2651A以及2657A型大功率系統(tǒng)數(shù)字源表一起完善了功率半導(dǎo)體器件測(cè)試解決方案。圖1給出源測(cè)量單元(SMU)儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指
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基于2400系列數(shù)字源表構(gòu)建電阻網(wǎng)絡(luò)測(cè)試系統(tǒng)

  • 電阻網(wǎng)絡(luò)生產(chǎn)測(cè)試的目的是在生產(chǎn)的各個(gè)階段盡可能快速地檢驗(yàn)這些器件的性能，以及它們最終的封裝形式。這些測(cè)試必須可靠以確保所有裝箱的產(chǎn)品都滿足制造規(guī)范。通常情況下，我們需要對(duì)網(wǎng)絡(luò)中的每個(gè)單元進(jìn)行電阻測(cè)量。
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用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測(cè)試和待機(jī)電流測(cè)試

  • CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測(cè)量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測(cè)試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測(cè)量過程被稱為IDDQ測(cè)試。此測(cè)試要求在IC處于靜態(tài)條件下測(cè)
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吉時(shí)利推出全球首款2450型觸摸屏數(shù)字源表

  • 先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器日前宣布，推出首款采用電容性觸摸屏和圖標(biāo)化操作界面的臺(tái)式數(shù)字源表(SMU)。2450型數(shù)字源表使用直觀的觸摸屏控制和圖標(biāo)化操作界面，令新用戶通過簡(jiǎn)單操作快速獲取測(cè)試結(jié)果，大大縮減學(xué)習(xí)儀器操作的時(shí)間，顯著提高工作效率，同時(shí)將更多時(shí)間用于科研領(lǐng)域的發(fā)明和創(chuàng)新。
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吉時(shí)利重磅推出首款觸摸屏源測(cè)量單元儀器

  • 　　近幾年，觸摸屏應(yīng)用以其直觀易用的優(yōu)勢(shì)，大行其道。吉時(shí)利也于近期推出了業(yè)內(nèi)首款采用觸摸屏的臺(tái)式源測(cè)量單元(SMU)儀器Model 2450。 　　據(jù)吉時(shí)利儀器高級(jí)營(yíng)銷產(chǎn)品經(jīng)理Jonathan Tucker介紹，吉時(shí)利了解到，現(xiàn)在使用測(cè)試儀器的工程師或者研究人員越來越希望測(cè)試儀器使用起來更加容易，拿來經(jīng)過簡(jiǎn)單了解就可以上手，而不是像過去一樣，學(xué)習(xí)儀器的使用就需要很長(zhǎng)時(shí)間。所以，在吉時(shí)利“觸摸、測(cè)試、創(chuàng)新”設(shè)計(jì)理念指導(dǎo)下，觸摸屏在2450上擔(dān)當(dāng)起了這一重任。 　　2450和上一代
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吉時(shí)利推出全球首款2450型觸摸屏數(shù)字源表

  • 　　先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器日前宣布，推出首款采用電容性觸摸屏和圖標(biāo)化操作界面的臺(tái)式數(shù)字源表(SMU)。2450型數(shù)字源表使用直觀的觸摸屏控制和圖標(biāo)化操作界面，令新用戶通過簡(jiǎn)單操作快速獲取測(cè)試結(jié)果，大大縮減學(xué)習(xí)儀器操作的時(shí)間，顯著提高工作效率，同時(shí)將更多時(shí)間用于科研領(lǐng)域的發(fā)明和創(chuàng)新。 　　吉時(shí)利最新一代2450型數(shù)字源表的設(shè)計(jì)，基于“Touch, Test, Invent™”(觸摸、測(cè)試、創(chuàng)新)的設(shè)計(jì)理念，為用戶提供測(cè)試測(cè)量?jī)x器的嶄新互動(dòng)方式。如
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數(shù)字源表B2900A在半導(dǎo)體激光器測(cè)試中的應(yīng)用

  • 半導(dǎo)體激光器是光纖通訊，激光顯示，氣體探測(cè)等領(lǐng)域中的核心部件，受到全世界科技人員的廣泛關(guān)注。在半導(dǎo)體激光器...
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吉時(shí)利三款最新型2600B系列數(shù)字源表

  • 吉時(shí)利儀器公司，作為先進(jìn)電性測(cè)試儀器與測(cè)試系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)者，推出三款最新的源測(cè)量單元(SMU)儀器，非常適合臺(tái)式及研發(fā)應(yīng)用，拓展了2600B系列數(shù)字源表產(chǎn)品系列，提高量產(chǎn)生產(chǎn)率，產(chǎn)品更具易用性。
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吉時(shí)利發(fā)布專為高功率半導(dǎo)體測(cè)試優(yōu)化的高電壓數(shù)字源表

  • 先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數(shù)字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測(cè)量單元數(shù)字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時(shí)利客戶分析范圍更寬的功率半導(dǎo)體器件和材料。2657A內(nèi)建3,000V、180W源，支持以極低的成本向被測(cè)器件輸出5倍于最接近競(jìng)爭(zhēng)系統(tǒng)的功率，并且，構(gòu)建至2657A的精密、高速6位半測(cè)量引擎的1fA（飛安）電流測(cè)量分辨率滿足了下一代功率半導(dǎo)體器件的低漏電要求。
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吉時(shí)利專為低電壓測(cè)試推出2401型數(shù)字源表

  • 　　吉時(shí)利儀器公司日前發(fā)布了專為低電壓測(cè)試而優(yōu)化的低成本方案，擴(kuò)展了其廣受工程師贊譽(yù)的2400系列數(shù)字源表產(chǎn)品線。與所有吉時(shí)利SMU(源測(cè)量單元)儀器一樣，新推出的2401型數(shù)字源表對(duì)光伏(太陽能)電池、高亮度LED(HBLED)、低壓材料和半導(dǎo)體器件的電流與電壓(I-V)特性分析以及電阻測(cè)量等高精度測(cè)試應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化，并且，2401以前所未有的低價(jià)在20V和1A信號(hào)幅度上提供了源和測(cè)量單元的先進(jìn)功能。 　　
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吉時(shí)利發(fā)布2600系列SourceMeter® 數(shù)字源表2635和2636

  • 吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了其2600系列SourceMeter® 數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636，自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費(fèi)比最高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測(cè)試解決方案。2635和2636采用最新特殊參數(shù)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fa（10-15安）的測(cè)量分辨率，從而滿足了很多半導(dǎo)體、光電和納米器件的測(cè)試需求。此外，其基于儀器的多通道架構(gòu)相比普通的基于主機(jī)的源測(cè)量方案降低了50%的成本。通過其測(cè)試腳本處理器（TSP™）和TSP-Link™互連通信總線，測(cè)試工程師可利用2636和26
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