首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 數理統(tǒng)計

數理統(tǒng)計 文章 進入數理統(tǒng)計技術社區(qū)

平板導體深層缺陷定量檢測仿真研究

  • 傳統(tǒng)渦流傳感器由于渦流的集膚效應以及檢測中自身激勵的干擾，難以測量導體深層缺陷信息，為了提高渦流傳感器的檢測能力，設計了矩形線圈模型，并改變了線圈模型的方位，可以有效的克服渦流的集膚效應，獲取深層缺陷的信息。并采用數理統(tǒng)計方法對定量檢測方法進行了研究，得出了缺陷深度與信號幅值之間的數學規(guī)律，經過驗證，可以較為準確地對缺陷進行定量檢測。
  • 關鍵字： 202108  渦流傳感器  深層缺陷  定量檢測  數理統(tǒng)計  
共1條 1/1 1

數理統(tǒng)計介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條數理統(tǒng)計!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對數理統(tǒng)計的理解，并與今后在此搜索數理統(tǒng)計的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網安備11010802012473