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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 無(wú)損耗

無(wú)損耗DC過(guò)流檢測(cè)器(04-100)

  • 　　為了檢測(cè)高DC電流，設(shè)計(jì)人員通常用并聯(lián)電阻器或霍爾基電流感測(cè)器。但是，并聯(lián)電阻器受I2R損耗影響并且需要在插入的地方開(kāi)路。而霍爾基電流感測(cè)器成本高。然而，飽和電抗器基(或磁放大器基)電流感測(cè)器可以克服上述限制。因此，對(duì)于不可能開(kāi)路的應(yīng)用，這是一種有吸引力的低成本、高效DC電流監(jiān)控方案。 　　如圖1所示，電路的關(guān)鍵元件是單向飽和電抗器：當(dāng)DC電流(IDC)流經(jīng)其控制線圈，在磁心中心引線上的NDC=1時(shí)，所產(chǎn)生的磁通在外引線中分為兩個(gè)相同的磁通。因此，兩個(gè)外引線以相同的大小被磁化。次級(jí)繞組稱之為&ldq
  • 關(guān)鍵字： 無(wú)損耗  DC電流  
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無(wú)損耗介紹

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