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晶諾微亮相慕尼黑光博會，為半導體工藝提供國產(chǎn)先進量檢測設備

• 在與Semicon China同期舉辦的2024慕尼黑上海光博會上，晶諾微（上海）科技有限公司（以下簡稱晶諾微）首度現(xiàn)身行業(yè)展會，將公司自主研發(fā)的光學量測設備和半導體量檢測設備展示給專業(yè)參會者，且在現(xiàn)場展開深入地互動交流。伴隨半導體市場的持續(xù)擴增以及國產(chǎn)化進程的不斷加快，半導體量檢測設備行業(yè)展現(xiàn)出蓬勃發(fā)展的良好態(tài)勢。于技術層面而言，半導體量檢測設備不斷實現(xiàn)技術突破與創(chuàng)新，高精度、高速度、高穩(wěn)定性成為當下乃至未來量檢測設備的關鍵特點，在線、自動化、非接觸式、納米級測量乃是主要方向，其不僅提高了半導體制造的精
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