極零點(diǎn) 文章 進(jìn)入極零點(diǎn)技術(shù)社區(qū)

基于極零點(diǎn)靈敏度的模擬電路可測(cè)性分析

• 　　引言 　　基于極零點(diǎn)靈敏度的分析方法與基于頻域的靈敏度分析不同，不需要計(jì)算頻域任意范圍內(nèi)的每一點(diǎn)的靈敏度，同時(shí)克服了分析幅頻特性和相頻特性的問題。其特點(diǎn)決定其在模擬電路分析和測(cè)試中有極大的應(yīng)用空間。 　　模擬電路的測(cè)試設(shè)計(jì)在模擬電路設(shè)計(jì)成本中占據(jù)了極大的比例。與數(shù)字電路不同，模擬電路有大量的性能指標(biāo)和電路參數(shù)，而且性能指標(biāo)與參數(shù)之間又沒有直接的線性關(guān)系，同時(shí)，性能指標(biāo)和參數(shù)與系統(tǒng)的時(shí)域響應(yīng)之問也不存在一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。因此，即使是簡(jiǎn)單的電路，要確定其測(cè)試的方法和參數(shù)，也是一個(gè)相當(dāng)復(fù)雜的問題。其中，一
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