首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試單元

數(shù)字測試儀下的參數(shù)測試單元的設計

  • 隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展,數(shù)字集成電路得到了廣泛的應用,數(shù)字芯片已經(jīng)滲透到各個生產(chǎn)、生活的領(lǐng)域。與之相對應的,各個領(lǐng)域?qū)?shù)字芯片的性能、穩(wěn)定性、可靠性也有了更高的要求。數(shù)字測試儀作為測試芯片性能最主要的技術(shù)正是在這樣的環(huán)境下迅速發(fā)展起來。

  • 關(guān)鍵字: 數(shù)字  測試儀  參數(shù)  測試單元    
共1條 1/1 1

測試單元介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試單元!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對測試單元的理解,并與今后在此搜索測試單元的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473