首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻

測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻 文章 進入測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻技術(shù)社區(qū)

摻硼p+-Si外延層厚度的測試方法

  • 0引言Si外延層厚度的測量方法有多種,主要包括稱重法、層錯法、磨角染色法、解理法和紅外干涉法。這些方法各具特點與適用范圍,例如,采用紅外干射法進行測量時,要求襯底表面對入射光具有足夠的反射能力。半導(dǎo)體材料對紅外...
  • 關(guān)鍵字: 測試方法p+-Si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻  
共1條 1/1 1

測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻的理解,并與今后在此搜索測試方法p+-si外延層腐蝕速率摻雜濃度摻的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473