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芯片測試機面臨新挑戰(zhàn),泰瑞達系列舉措捍衛(wèi)品牌

  • 集成電路自動測試設備(ATE,測試機)是檢測芯片功能和性能的專用設備,據SEMI預測,2019年中國測試機占據后道檢測設備的62.8%的份額(如圖1)。數據來源:SEMI,賽迪顧問整理圖1 2019年中國集成電路測試設備產品結構ATE測試的趨勢是什么?為此,電子產品世界記者訪問了泰瑞達業(yè)務戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷(Natalian Der)女士,并深入了解了泰瑞達的產品特色與在華策略。1 芯片測試的新挑戰(zhàn)為了捍衛(wèi)電子產品的品牌,半導體公司可謂重任在肩:需要在芯片上整合多種功能,有高性能指標,很短的上市時間,合理的成
  • 關鍵字: 測試機  ATE  芯片  

惠瑞捷V93000平臺獲ISE Labs硅谷及德州奧斯汀廠采用

  • 半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) (Advantest Group 愛德萬集團子公司)今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進V93000 Smart Scale 數位量測模組以及Pin Scale測試機種之測試設備,進一步擴展雙方對于測試開發(fā)服務的合作關系。
  • 關鍵字: 惠瑞捷  測試機  V93000 Smart Scale  

惠瑞捷同時推出可擴展測試機臺與數字通道卡

  •   Advantest 集團旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴展、高性價比的測試機臺系列,可用來測試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構的芯片。   Smart Scale 系列是具備先進通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測試機臺,與惠瑞捷久經大生產考驗的 V93000 平臺完全相容。智能測試意味著每個通道卡具有獨立的時鐘域,通過匹配受測器件的準確數據率要求,實現全面的測試覆蓋率。
  • 關鍵字: 惠瑞捷  測試機  

聯(lián)電測試機臺賣斷給京元 晶圓測試欲委外代工

  •   聯(lián)電為了提升產能運用效率,未來朝向將晶圓測試全數委外代工方向規(guī)劃。在聯(lián)電董事長洪嘉聰、京元電董事長李金恭的主導下,聯(lián)電將把手中所有約30臺測試機臺賣給京元電,交易價格約在新臺幣數億元,且不排除由京元電接收聯(lián)電測試部門。京元電買下聯(lián)電測試設備,短期營運成本將會增加,但只要景氣回升,將可全包聯(lián)電龐大測試委外訂單。   聯(lián)電將于今(10)日舉行法說會,市場普遍預期本季晶圓出貨量將較上季減少約40%至45%,產能利用率恐下滑至30%出頭。由于短期內訂單能見度仍然不佳,為了讓資本支出及產能達到最佳化,聯(lián)
  • 關鍵字: 聯(lián)電  京元電  測試機  

基于FPGA的PCB測試機硬件電路設計

  • 引言   PCB 光板測試機基本的測試原理是歐姆定律,其測試方法是將待測試點間加一定的測試電壓,用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點,獲得兩點間電阻值對應的電壓信號,通過電壓比較電路,測試出兩點間的電阻或通斷情況。 重復以上步驟多次,即可實現對整個電路板的測試。   由于被測試的點數比較多, 一般測試機都在2048點以上,測試控制電路比較復雜,測試點的查找方法以及切換方法直接影響測試機的測試速度,本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設計。   硬件控制系統(tǒng)   測試過程是在上位計算機的控制下,控
  • 關鍵字: FPGA  PCB  測試機  硬件電路  

基于FPGA的PCB測試機硬件電路設計

  •   引言   PCB 光板測試機基本的測試原理是歐姆定律,其測試方法是將待測試點間加一定的測試電壓,用譯碼電路選中PCB 板上待測試的兩點,獲得兩點間電阻值對應的電壓信號,通過電壓比較電路,測試出兩點間的電阻或通斷情況。 重復以上步驟多次,即可實現對整個電路板的測試。   由于被測試的點數比較多, 一般測試機都在2048點以上,測試控制電路比較復雜,測試點的查找方法以及切換方法直接影響測試機的測試速度,本文研究了基于FPGA的硬件控制系統(tǒng)設計。   硬件控制系統(tǒng)   測試過程是在上位計算機的控制下
  • 關鍵字: FPGA  PCB  硬件電路  測試機  
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測試機介紹

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