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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測(cè)量平臺(tái)

NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺(tái)的I/O模塊

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日針對(duì)NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過擴(kuò)展C系列平臺(tái), NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級(jí)的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測(cè)和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
  • 關(guān)鍵字： NI  測(cè)量平臺(tái)  嵌入式  
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測(cè)量平臺(tái)介紹

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