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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 消除方法

投射電容屏內(nèi)部噪聲的消除方法

  • 要點1.電容式觸摸屏已廣泛普及，但它易于因產(chǎn)品的噪聲而產(chǎn)生虛假和錯誤的響應(yīng)。2.噪聲來源于內(nèi)部DC/DC轉(zhuǎn)換器子系統(tǒng)和顯示驅(qū)動器。3.無論是處理顯示屏、充電器、天線或其它來源的噪聲，觸摸IC都必須做到相同的用戶體驗
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差分放大器中的不匹配效應(yīng)及消除方法研究

  • 隨著微電子制造業(yè)的發(fā)展，制作高速、高集成度的CMOS電路已迫在眉睫，從而促使模擬集成電路的工藝水平達到深亞微米級。因為諸如溝道長度、溝道寬度、閾值電壓和襯底摻雜濃度都未隨器件尺寸的減小按比例變化，所以器件
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電力系統(tǒng)諧振消除方法的探討和分析

  • 本文針對電力系統(tǒng)諧振消除方法進行探討和分析，并提出一些意見，為相關(guān)工作者提供參考。

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差分放大器中的不匹配效應(yīng)及消除方法

  • 敘述模擬集成電路設(shè)計中關(guān)于MOS管不匹配特性的一些基本概念，以及隨著加工尺寸的不斷減小，MOS管所引起的一系列短溝道效應(yīng)，進而描述整個MOS管模型的發(fā)展歷史，以此說明一個精確模型對模擬電路設(shè)計的重要意義。然后進一步闡述因MOS管失配而引起電路性能變差，尤其是對整個D／A轉(zhuǎn)換器性能的影響；進而采用改進技術(shù)，并對其進行了進一步驗證。針對放大器引起的失調(diào)，介紹通過版圖設(shè)計消除失配的原理，并且運用電路設(shè)計方法進行消除，采用TSMC0．25μm標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝參數(shù)對其進行仿真驗證。針對D／A的電流源失配引起的電路性
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TDS-OFDM系統(tǒng)的載波間干擾消除方法

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消除方法介紹

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