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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 熱阻測試

熱阻測試原理與失效分析

  • 文中通過熱阻的測試原理分析和實際案例，分別從熱阻測試條件、控制限、上芯空洞、傾斜、芯片內(nèi)阻等幾個方面，全面地闡述對熱阻測試結(jié)果的影響，并通過數(shù)據(jù)統(tǒng)計形成圖表，較為直觀明了，總結(jié)出熱阻測試失效的各種可能原因。
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熱阻測試介紹

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