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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 特性測試

超快速IV測試技術(shù)簡介-半導體器件特性測試的變革

  • 超快速IV測量技術(shù)是過去十年里吉時利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著稱，吉時利的原測試單元在過去的三十年里一直被當做直流伏安測試的標準，一些著名的產(chǎn)品例如236
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滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術(shù)

  • 引言：EEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法，大多數(shù)復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
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WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試

  • WLAN技術(shù)帶來了新挑戰(zhàn)，如何才能有效地消除干擾？WLAN基站和接入點功率管理的效率如何？這些問題必須通過綜合測試方案加以解決，本文專門論述了WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試的意義和優(yōu)勢。WLAN技術(shù)為半導體
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中小功率光伏陣列I-V特性測試技術(shù)研究

  • 摘要：這里采用一種基于動態(tài)電容充電方法，結(jié)合高速A／D采樣和數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)對光伏陣列的現(xiàn)場I-V特性測試。該方法具有安全性高、體積小、成本低、精度高等特點，并可用于更大功率的光伏陣列現(xiàn)場測試。詳細介紹了系統(tǒng)
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超快速IV測試技術(shù)-半導體器件特性測試的變革

  • 超快速IV測量技術(shù)是過去十年里吉時利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著稱，吉時利的原測試單元在過去的三十年里一直被當做直流伏安測試的標準，一些著名的產(chǎn)品例如236
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特性測試介紹

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