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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 特性測(cè)試

超快速IV測(cè)試技術(shù)簡(jiǎn)介-半導(dǎo)體器件特性測(cè)試的變革

  • 超快速IV測(cè)量技術(shù)是過(guò)去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測(cè)試單元而著稱，吉時(shí)利的原測(cè)試單元在過(guò)去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，一些著名的產(chǎn)品例如236
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滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測(cè)試需求的JTAG技術(shù)

  • 引言：EEE 1149.1邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來(lái)進(jìn)行復(fù)雜IC與電路板上的特性測(cè)試的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，大多數(shù)復(fù)雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)。為了更好地理解這種
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WLAN器件開(kāi)發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測(cè)試

  • WLAN技術(shù)帶來(lái)了新挑戰(zhàn)，如何才能有效地消除干擾？WLAN基站和接入點(diǎn)功率管理的效率如何？這些問(wèn)題必須通過(guò)綜合測(cè)試方案加以解決，本文專門論述了WLAN器件開(kāi)發(fā)和網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃中關(guān)鍵特性測(cè)試的意義和優(yōu)勢(shì)。WLAN技術(shù)為半導(dǎo)體
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中小功率光伏陣列I-V特性測(cè)試技術(shù)研究

  • 摘要：這里采用一種基于動(dòng)態(tài)電容充電方法，結(jié)合高速A／D采樣和數(shù)據(jù)處理，實(shí)現(xiàn)對(duì)光伏陣列的現(xiàn)場(chǎng)I-V特性測(cè)試。該方法具有安全性高、體積小、成本低、精度高等特點(diǎn)，并可用于更大功率的光伏陣列現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。詳細(xì)介紹了系統(tǒng)
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超快速IV測(cè)試技術(shù)-半導(dǎo)體器件特性測(cè)試的變革

  • 超快速IV測(cè)量技術(shù)是過(guò)去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測(cè)試單元而著稱，吉時(shí)利的原測(cè)試單元在過(guò)去的三十年里一直被當(dāng)做直流伏安測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，一些著名的產(chǎn)品例如236
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特性測(cè)試介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條特性測(cè)試!
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