特性測試 文章 進入特性測試技術(shù)社區(qū)
滿足的嵌入式系統(tǒng)電路特性測試需求的JTAG技術(shù)
- 引言:EEE 1149.1邊界掃描測試標準(通常稱為JTAG、1149.1或dot 1)是一種用來進行復雜IC與電路板上的特性測試的工業(yè)標準方法,大多數(shù)復雜電子系統(tǒng)都以這種或那種方式用到了IEEE1149.1(JTAG)標準。為了更好地理解這種
- 關(guān)鍵字: JTAG 嵌入式系統(tǒng) 電路 特性測試
WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試
- WLAN技術(shù)帶來了新挑戰(zhàn),如何才能有效地消除干擾?WLAN基站和接入點功率管理的效率如何?這些問題必須通過綜合測試方案加以解決,本文專門論述了WLAN器件開發(fā)和網(wǎng)絡規(guī)劃中關(guān)鍵特性測試的意義和優(yōu)勢。WLAN技術(shù)為半導體
- 關(guān)鍵字: WLAN 器件 網(wǎng)絡規(guī)劃 特性測試
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特性測試介紹
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