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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 電擊測(cè)試

使用NI LabVIEW FPGA 與智能 DAQ的自動(dòng)高電壓電擊測(cè)試

  • 構(gòu)成自動(dòng)化的高電壓(HV)電擊器測(cè)試系統(tǒng)，以個(gè)別測(cè)試12組HV電擊器模塊，并可測(cè)試不同的產(chǎn)品類型，縮短整...
  • 關(guān)鍵字： LabVIEW  DAQ  電擊測(cè)試  

使用NI LabVIEW 的自動(dòng)高電壓電擊測(cè)試

共2條 1/1 1

電擊測(cè)試介紹

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