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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 確定性測(cè)試

西門(mén)子推出Tessent In-System Test，在硅片全生命周期內(nèi)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的確定性測(cè)試

  • 西門(mén)子數(shù)字化工業(yè)軟件日前推出?Tessent??In-System Test?軟件，作為一款突破性的可測(cè)試性設(shè)計(jì)?(DFT)?解決方案，旨在增強(qiáng)下一代集成電路?(IC)?的系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試能力。Tessent In-System Test?專(zhuān)為解決老化和環(huán)境因素等導(dǎo)致的靜默數(shù)據(jù)損壞或錯(cuò)誤?(SDC/SDE)?挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì)，是可與?Tessent??Streaming Scan Network&n
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確定性測(cè)試介紹

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