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NI主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”

• 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）于9月底在北京成功主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006）。本屆DVTF是繼2004和2005年之后，NI連續(xù)第三年在中國(guó)地區(qū)成功地舉辦這一活動(dòng)，并且DVTF的品牌業(yè)已在行業(yè)用戶和媒體間確立了相當(dāng)?shù)闹取? 本屆論壇以一場(chǎng)形式新穎的主題演講開始，并分為“自動(dòng)化測(cè)試”和“嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)”兩
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