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半導(dǎo)體線寬檢測(cè)的首個(gè)ISO國際標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布

• 近日，國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）正式發(fā)布了微束分析領(lǐng)域中的一項(xiàng)國際標(biāo)準(zhǔn)：“基于測(cè)長掃描電鏡的關(guān)鍵尺寸評(píng)測(cè)方法”（Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM (ISO 21466)），該標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理學(xué)院和微尺度物質(zhì)科學(xué)國家研究中心的丁澤軍團(tuán)隊(duì)主導(dǎo)制定，是半導(dǎo)體線寬測(cè)量方面的首個(gè)國際標(biāo)準(zhǔn)，也是半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域由中國主導(dǎo)制定的首個(gè)國際標(biāo)準(zhǔn)，
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