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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

AOI檢測(cè)系統(tǒng)的光源照明模式和控制電路設(shè)計(jì)

  • 摘要 針對(duì)在不同照明方式下會(huì)出現(xiàn)不同的缺陷特征，根據(jù)不同缺陷的檢測(cè)方法和采用的照明方式密切相關(guān)的特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了光源二級(jí)照明系統(tǒng)及控制電路。此系
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缺陷檢測(cè)系統(tǒng)介紹

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