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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 老化

可同時(shí)監(jiān)控上百個(gè)通道的LED老化測(cè)試方案

  • LED發(fā)光的原理：　　中國(guó)LED產(chǎn)業(yè)起步于20世紀(jì)70年代。經(jīng)過(guò)30多年的發(fā)展，中國(guó)LED產(chǎn)業(yè)已初步形成了包括LED外延片的生產(chǎn)、LED芯片的制備、LED芯片的封裝以及LED成品應(yīng)用在內(nèi)的較為完整的產(chǎn)業(yè)鏈?！　ED照明的LED是由Ⅲ
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如何解決拼接屏老化與花屏現(xiàn)象

  • 拼接屏老化問(wèn)題　　液晶拼接屏由于長(zhǎng)時(shí)間工作很輕易使某些像素點(diǎn)過(guò)熱，一旦超過(guò)極限會(huì)導(dǎo)致永久性損壞，這就形成了常說(shuō)的“壞點(diǎn)”。由于液晶拼接屏的像素點(diǎn)是由液晶體構(gòu)成，因此當(dāng)連續(xù)滿負(fù)荷工作96小時(shí)以上
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一種電源老化節(jié)能方案

  • 1引言通常情況下，設(shè)備的例行老化是讓設(shè)備接上模擬負(fù)載進(jìn)行模擬工作，當(dāng)然能量就消耗在模擬負(fù)載上，這種消耗通常沒(méi)有得到最佳的利用。本文根據(jù)電源轉(zhuǎn)換器是將電能轉(zhuǎn)換為不同等級(jí)電能的特點(diǎn)，提出通過(guò)能量反饋實(shí)現(xiàn)大部
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淺析LED常規(guī)性老化方式及如何防止產(chǎn)品老化

  • LED常規(guī)性老化試驗(yàn)對(duì)比一般來(lái)說(shuō)，尤其是大功率LED在初始點(diǎn)亮階段光度都會(huì)有一定的衰減，LED封裝廠為了...
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防止LED產(chǎn)品老化

  • 我們?cè)趹?yīng)用LED時(shí)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)這樣種問(wèn)題，LED焊在產(chǎn)品上剛開(kāi)始的時(shí)候是正常工作的，但點(diǎn)亮一段時(shí)間以后就會(huì)出現(xiàn)暗...
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OLED器件制作的主要步驟

  • OLED器件的有機(jī)薄膜及金屬薄膜與水和空氣會(huì)立即氧化變壞,一定要采取措施避免這個(gè)問(wèn)題?？刹捎脽o(wú)機(jī)膜保護(hù)法...
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FPGA電路動(dòng)態(tài)老化技術(shù)研究

  • 1引言FPGA是現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列（FieldProgrammingGateArray）的縮寫(xiě)，用戶可以編寫(xiě)程序?qū)PGA內(nèi)部的邏輯...
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電路老化試驗(yàn)箱恒溫控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • 0 引 言
    目前，各種電子產(chǎn)品應(yīng)用于我們?nèi)粘Ｉ畹姆椒矫婷?，但是所有的電子產(chǎn)品都有一定的使用壽命，會(huì)隨著使用時(shí)間的推移逐漸老化電路測(cè)試實(shí)驗(yàn)箱被廣泛采用，在恒溫箱溫度控制系統(tǒng)中，一般基于單片機(jī)設(shè)計(jì)，其
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新型基于能量循環(huán)的電源老化節(jié)能實(shí)現(xiàn)

  • 分析電源設(shè)備老化過(guò)程中節(jié)能的必要性和重要意義，針對(duì)原有的高能耗老化現(xiàn)狀，提出采用基于能量循環(huán)的老化節(jié)能實(shí)現(xiàn)方法。分析了能量循環(huán)的工作模式， 給出該工作模式的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)方法。實(shí)際測(cè)試表明，通過(guò)能量反饋可以實(shí)現(xiàn)大部分消耗電能的循環(huán)利用，具有顯著得節(jié)能效果。
    關(guān)鍵詞 電源老化，能量循環(huán)，節(jié)能
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