耦合測(cè)試 文章 進(jìn)入耦合測(cè)試技術(shù)社區(qū)

常見的手機(jī)天線測(cè)試方法

• 　　隨著移動(dòng)通信的飛速發(fā)展和應(yīng)用，中國的手機(jī)行業(yè)也不斷發(fā)展壯大，當(dāng)然中國的手機(jī)用戶也在迅猛增長。而手機(jī)的射頻器件中，手機(jī)天線是無源器件，手機(jī) 天線作為手機(jī)上面唯一的一個(gè)“量身定做”的器件，它的特殊性和重要性必然要求其研發(fā)過程對(duì)天線性能的測(cè)試要求非常嚴(yán)格，這樣才能確保手機(jī)的正常使用?，F(xiàn)在 就簡(jiǎn)單的介紹一下手機(jī)天線的研發(fā)過程中的幾種常見的手機(jī)天線測(cè)試方法： 　　1、微波暗室(Anechonic chamber) 　　波暗室又叫無反射室、吸波暗室簡(jiǎn)稱暗室。微波暗室由電磁屏蔽室、濾波與
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